一、简介
分析室于2020年购置场发射扫描电镜,主要功能是进行各类固态样品的表面形貌特征观察和微区成份分析。
二、主要仪器
1、场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)
产地:捷克
购置时间:2020年
功能:固态样品的表面形貌特征观察、表面原位微区成份分析、阴极发光图像拍摄。配有二次电子探测器和背散射电子探测器,可拍摄背散射电子图像(BSEI)、二次电子图像(SEI);二次电子成像分辨率1.2nm(30kV,高真空模式),背散射电子成像分辨率2.9 nm (15kV,低真空模式)。配有阴极发光探头,可拍摄锆石等矿物的阴极发光(CL)图像 。同时配有牛津公司Ultim Max40 EDS 能谱仪,能量分辨率为127eV。
应用:表面形貌和结构图像观察:背散射图像(BSEI)、二次电子图像(SEI)、阴极发光图像(CL);矿物等固态样品的主量元素能谱分析,B-U元素的快速定性点分析、线分析和面分析。
三、联系方式
张灵敏;电话:20926959-1157; 邮件:zlm@tongji.edu.cn