一、简介
分析室于2020年购置场发射扫描电镜，主要功能是进行各类固态样品的表面形貌特征观察和微区成份分析。
二、主要仪器
1、场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）
产地：捷克
购置时间：2020年
功能：固态样品的表面形貌特征观察、表面原位微区成份分析、阴极发光图像拍摄。配有二次电子探测器和背散射电子探测器，可拍摄背散射电子图像（BSEI）、二次电子图像（SEI）；二次电子成像分辨率1.2nm（30kV，高真空模式），背散射电子成像分辨率2.9 nm (15kV，低真空模式）。配有阴极发光探头，可拍摄锆石等矿物的阴极发光（CL）图像 。同时配有牛津公司Ultim Max40 EDS 能谱仪，能量分辨率为127eV。
应用：表面形貌和结构图像观察：背散射图像（BSEI）、二次电子图像（SEI）、阴极发光图像（CL）；矿物等固态样品的主量元素能谱分析，B-U元素的快速定性点分析、线分析和面分析。
三、联系方式
张灵敏；电话：20926959-1157; 邮件：zlm@tongji.edu.cn